國創(chuàng)科儀 快掃型X射線吸收譜儀 SuperXAFS V8000 

核心參數(shù)

1.能量范圍：5-12keV

2.能量分辨率：1-3eV@7-9keV

3.光通量：探測器處至大計數(shù)率≥1×10? photons/s @8keV

4.單色器晶體：配備柱面彎曲分光晶體，曲率半徑為250mm

5.面探測器：像素尺寸 75um*75um

6.有效面積：77mm*38mm

國創(chuàng)科儀 快掃型X射線吸收譜儀 SuperXAFS V8000 

X射線吸收精細結構譜儀（XAFS/XES）是一種用于研究材料局部結構和電子狀態(tài)的非破壞性技術。該技術利用 X 射線與物質的相互作用，獲取指定元素的近邊吸收譜（XANES）、擴展遠邊吸收譜（EXAFS）和特定能帶發(fā)射譜，分別用于分析元素的化學狀態(tài)和價態(tài)、原子周圍局部環(huán)境的配位結構，以及甄別測量元素的配位原子類別，是表征晶態(tài)和非晶態(tài)材料微觀配位結構的重要手段。XAFS/XES主要應用于催化劑 、合金、陶瓷、環(huán)境污染物、各類晶態(tài)和非晶態(tài)材料及生物樣品內金屬離子的價態(tài)、配位結構及電子狀態(tài)分析，以及材料局部結構在熱場、光場、電場和磁場變化下的局部結構動態(tài)演化過程研究等。

X 射線吸收譜儀的應用領域

催化劑研究

分析催化劑活性中心的金屬價態(tài)（如 Pt²?/Pt?）、配位環(huán)境及原子間距，揭示催化反應機理（如燃料電池催化劑的氧還原活性）。

跟蹤催化劑在反應中的結構演變（如 CO 氧化反應中 Cu 基催化劑的價態(tài)變化）。

納米材料表征

測定納米顆粒（如量子點、納米氧化物）的表面原子配位和缺陷濃度（如 TiO?納米管中的氧空位）。

研究納米復合材料的界面電子結構（如石墨烯 - 金屬納米顆粒的電荷轉移）。

功能材料分析

探測電池電極材料（如 LiCoO?）的鋰嵌入 / 脫出過程中元素價態(tài)變化，優(yōu)化電池性能。

分析磁性材料（如 Fe?O?）的局域磁環(huán)境，解釋磁有序機制。